開爾文探針APS04-BV伟德国际体育官网入口

開爾文探針

簡要描述：環境壓力光發射光譜(APS)係統通過光發射測量材料在環境條件下的絕對功函數，不需要真空。APS的激發範圍為(wei) 3.4 eV至7.0 eV，這意味著APS能夠測量金屬的絕對功函數和半導體(ti) 的電離勢，同時用開爾文探針測量表麵費米能級。

產品型號：APS04

廠商性質：經銷商

更新時間：2025-01-15

訪問量：1955

開爾文探針係統KP技術在使研究人員能夠改進其材料的特性方麵處於(yu) Leading position地位。

我們(men) 的專(zhuan) 業(ye) 知識支持新興(xing) 和材料技術的發展。

目前令人興(xing) 奮的增長領域包括太陽能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究，然而這項技術可以應用於(yu) 許多科學領域

開爾文探針

掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用於(yu) 測試導電材料的功函或半導體(ti) 材料表麵的表麵電勢，表麵功函。由材料表麵最頂部的1-3層原子或分子決(jue) 定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表麵分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(ye) 界最高分辨率的測試係統。

特性

•在空氣中光電發射功函數

•密度的狀態測量

•3.4 eV至7.0 eV能量範圍

•測量所有半導體(ti) 波段

•開爾文探針接觸電位差

應用領域：

•有機和非有機半導體(ti)

•金屬和金屬合金

•薄膜和表麵氧化物

•太陽能電池和有機光伏

•腐蝕和納米技術

開爾文探針

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